“為了推動科學(xué)的發(fā)展，我們的客戶告訴我們，他們需要超高效液相色譜(UPLC®)的所有靈敏度、選擇性和速度優(yōu)點(diǎn)的同時，還要求有高分辨率準(zhǔn)確質(zhì)量MS的定量和定性性能。”沃特世公司分部飛行時間質(zhì)譜儀產(chǎn)品經(jīng)理Gordon Kearney稱，“在UPLC數(shù)據(jù)采集速率和有限的實(shí)驗(yàn)室工作效率下，其它質(zhì)譜儀具有更差的質(zhì)量分辨率，從而無法從單一分析中于樣品的每個可檢測組分上獲取準(zhǔn)確質(zhì)量前體和碎片離子的信息。憑借UPLC/MSE 和 QuanTof技術(shù)，Xevo G2 Tof不再存在這樣的局限性，從而使我們的客戶可成功進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，而無需折中處理。”
借助QuanTof技術(shù)，Xevo G2 Tof將市場領(lǐng)先、研究級別的SYNAPT® G2技術(shù)引進(jìn)易于使用的臺式系統(tǒng)，使系統(tǒng)的定量和定性性能達(dá)到嶄新的水平。QuanTof 技術(shù)將創(chuàng)新型高電廠推進(jìn)器和雙階反射技術(shù)與最佳飛行時間幾何結(jié)構(gòu)中的新型離子檢測系統(tǒng)相結(jié)合。二者的結(jié)合使得唯獨(dú)能在UPLC分離兼容的采集速率下取得的高分辨率、準(zhǔn)確質(zhì)量和定量性能達(dá)到嶄新的高度。
進(jìn)一步促進(jìn)系統(tǒng)性能的是數(shù)據(jù)采集采用UPLC/MSE技術(shù)，這種數(shù)據(jù)采集方法允許使用者從單一數(shù)據(jù)組中查看高質(zhì)量的、確鑿的準(zhǔn)確質(zhì)量前體和碎片離子數(shù)據(jù);基本上，它可在任何時間獲取任何數(shù)據(jù)。
在整個質(zhì)譜儀家族中，沃特世公司采用廣泛的、通用離子源結(jié)構(gòu)包括UPLC液相接口和離子源，這些通用的離子源結(jié)構(gòu)使Xevo G2 Tof的實(shí)驗(yàn)選項和研究應(yīng)用的數(shù)量最大化， 它們由nanoACQUITY UPLC® 和 TRIZAIC™ UPLC進(jìn)樣和離子源組成，各種離子源包括：電噴霧電離源(ESI)、nanoflow ESI、大氣壓化學(xué)電離源(APCi)、ESI/APCi組合源(ESCi)、大氣壓固相分析探頭 (ASAP)及大氣壓氣相色譜源(APGC)。
沃特世工程精簡(Engineered Simplicity™)技術(shù)大大提高了用戶對于Xevo G2 Tof性能和多功能的可及性。